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  • 霍爾效應測試儀(HEM)
    霍爾效應測試儀(HEM)

    可用于一般半導體材料的霍爾系數、電阻率、電子遷移率、載流子濃度的常溫測量,是研究半導體和電子材料的電子特性的重要工具。

    時間:2023-6-14型號:HEM訪問量:330
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