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論文前沿 | 光電子領域雙引擎!GaN 基 mini-LED 與重光冷熱臺的協同創新力量

發布時間:2025-5-30      點擊次數:101

  在半導體光電子技術高速迭代的當下,GaN mini-LED 技術正以顛覆性創新之勢,重構顯示與通信產業的底層架構。其在高分辨顯示中的高亮度、長壽命特性,以及在可見光通信中的高速率、低延遲優勢,為消費電子、智能交通、工業物聯網等領域提供了顛覆性解決方案。

 

  盡管面臨巨量轉移、效率優化等挑戰,但隨著材料科學、器件工藝與系統集成技術的協同發展,GaN mini-LED 仍有望成為光電子產業的核心增長點。

 

  在前沿研究層面,精密溫控設備對解析器件本征物理機制至關重要。以廈門大學在《ACS Photonics》(IF=7)發表的研究為例,重光 TS300T-PM 冷熱臺在 GaN 基綠色 mini-LED 的變溫光譜研究中發揮核心作用。通過 - 196℃至 300℃的寬溫域調控,結合顯微高光譜成像技術,研究團隊成功解析局域激子輻射復合機制,揭示了極化場庫侖屏蔽效應與能帶填充效應對電子 - 聲子耦合的協同調控規律,為通過應變工程優化器件色純度與發光效率提供理論依據。

 

  期刊名:《ACS Photonics

  文章名:《Origin of the Inhomogeneous Electroluminescence of GaN-Based Green Mini-LEDs Unveiled by Microscopic Hyperspectral Imaging

  影響因子:7

  客戶單位:廈門大學

  應用產品:TSL300

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圖1:論文摘要截圖

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圖2:論文產品型號截圖

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圖3:測試結果圖


  重光 TS300T-PM 冷熱臺作為專業級變溫測試平臺,采用液氮閉環制冷與 PID 智能控溫算法,實現 ±0.01℃的控溫精度。其模塊化設計支持真空、氣氛環境下的電學、光學原位測試,X/Y 可移的高精度樣品臺可與共聚焦顯微鏡、微區光譜儀無縫集成,為半導體器件、二維材料等領域提供從材料表征到器件性能分析的全鏈條解決方案。

液氮薄腔體系統圖(含水冷).jpg

圖4:TS300T-PM系統圖

1748573623894.png

圖5:系統參數

  隨著 Mini-LED 技術向 Micro-LED 的演進,高精度變溫測試設備將成為加速技術迭代的關鍵工具。重光科技持續投入研發,致力于通過溫控技術創新,助力科研工作者突破光電材料與器件的性能極限,推動半導體光電子產業邁向新高度!

 

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