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簡要描述:簡介:適合測試探針需要接觸到樣品正面的情況,測試探針可前后伸縮和自由轉動,因此使用起來靈活方便。根據探針和樣品的接觸狀況,可選擇不同材質和觸點形狀的探針。 配套:A2505(光學平臺方腔支架)、A2801(鈹銅探針)、A 2802(高溫合金探針)、A2803(鎢鋼探針);
產品分類
光電冷熱臺
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詳細介紹
一、產品簡介
適合測試探針需要接觸到樣品正面的情況,測試探針可前后伸縮和自由轉動,因此使用起來靈活方便。根據探針和樣品的接觸狀況,可選擇不同材質和觸點形狀的探針。
配套:A2505(光學平臺方腔支架)、A2801(鈹銅探針)、A 2802(高溫合金探針)、A2803(鎢鋼探針)
二、產品參數
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